La plataforma de laboratorio definitiva para aplicaciones avanzadas de difracción
Con una precisión angular de < ± 0,01° Δ2θ en todo el rango angular, el AXRD LPD tiene la capacidad de afrontar desafíos de difracción muy complejos. Este sistema es ideal para monocristales, películas delgadas y muestras a granel y en polvo.
El AXRD LPD tiene todo lo que necesita para la identificación de fases, el análisis cuantitativo de fases, el porcentaje de cristalinidad, el tamaño y la tensión de los cristalitos, el refinamiento de Rietveld, la caracterización de películas y recubrimientos delgados, el análisis de estructuras y la difracción en el plano. Con múltiples etapas de muestra, software potente y opciones de bases de datos integrales, el AXRD LPD es tan versátil como sus necesidades de difracción.
El AXRD LPD es la plataforma multipropósito definitiva para todos sus experimentos de difracción de polvo. Este sistema versátil de alta potencia le permite cambiar fácilmente la óptica, las etapas de muestra, las celdas ambientales, los detectores de rayos X y la óptica de rayos X. A medida que cambian sus requisitos de medición, puede transformar un LPD estándar en una unidad totalmente personalizada, asegurándose de que su sistema siempre esté configurado de manera óptima para sus necesidades.
